WWW.DISSERS.RU

БЕСПЛАТНАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ БИБЛИОТЕКА

   Добро пожаловать!


Pages:     | 1 |   ...   | 3 | 4 || 6 |

4. На основании полученных результатов определить неисправные элементы и сделать вывод о проделанной работе.

5. Вставьте исследуемую плату (ТЭЗ) в разъем стенда 1.

6. Установите все кнопки вход/выход (белые) 5 в положение «вход». Затем отожмите те кнопки, которым по схеме соответствует положение «выход». Проверить правильность установки можно с помощью кнопки 3.

7. После этого можно включать блок питания установки тестового контроля и тумблер питания стенда 2. Установка готова к работе.

8. Внести неисправность в модуль ТЭЗ в соответствии с вариантом задания (табл. 5.1) при помощи кнопок, расположенных на модуле ТЭЗ (рис. 5.2).

5.1. Варианты заданий Номер кнопки Номер кнопки № № варианта варианта 1 2 3 4 5 6 1 2 3 4 5 1 1 1 1 1 1 1 16 1 0 0 0 0 2 1 1 1 1 1 0 17 1 0 1 0 1 3 1 1 1 1 0 1 18 1 0 1 0 1 4 1 1 1 0 0 0 19 0 0 1 1 0 5 1 1 0 0 1 1 20 0 0 1 1 0 6 1 0 0 0 1 0 21 0 1 0 1 1 7 0 0 0 1 0 1 22 0 1 0 0 1 8 0 0 0 1 0 0 23 0 1 0 0 0 9 0 0 1 1 1 1 24 0 1 0 0 0 10 0 0 1 0 1 0 25 1 1 1 1 1 11 0 1 1 0 0 1 26 1 0 1 1 1 12 0 1 1 0 0 0 27 1 0 1 1 0 13 1 1 0 1 1 1 28 1 0 1 0 0 14 1 1 0 1 1 0 29 1 0 0 0 1 15 1 1 0 1 0 1 30 1 0 0 0 1 9. В соответствии с таблицей истинности (табл. 5.2) установите на входах ТЭЗ логические уровни кнопками черного цвета 6 с номерами, которые совпадают с номерами входов на плате для первого варианта входной комбинации (первая строка таблицы).

5.2. Таблица истинности исправного ТЭЗ Номера входов Номера выходов № 5 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 18 21 22 23 25 26 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 0 0 0 2 0 1 0 0 1 1 0 0 1 1 0 1 0 0 1 1 1 3 1 0 1 1 0 0 1 1 0 0 1 0 0 0 1 1 1 4 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 1 1 10. Проконтролируйте, какие логические уровни наблюдаются на выходных контактах ТЭЗ по пронумерованным в соответствии с номерами выходных контактов сигнальными светодиодами. Занесите выходную комбинацию в табл. 5.3.

11. Повторите пункты 5–6 для всех входных комбинаций.

12. После проверки всех строк таблицы истинности сравните все полученные данные с прилагаемой к ТЭЗ таблицей истинности. По полученным результатам и данным табл. 5.4 сделайте вывод о работоспособности платы. В случае необходимости найдите на схеме логический элемент, вышедший из строя.

5.3. Экспериментальные данные Контакт 21 22 23 25 26 Комбинация 5.4. Таблица соответствия выводов микросхем на плате контактам ТЭЗ Микросхема Номер контакта DD1.1 DD1.2 DD2.1 DD2.2 DD2.3 DD2.4 Содержание отчёта 1. Название и цель лабораторной работы.

2. Таблица истинности исправного ТЭЗ.

3. Таблица выходных параметров (логических уровней), полученных экспериментальным путём.

4. Вывод о проведении диагностики исправности типовых элементов замены, в результате которой определены вышедшие из строя элементы.

Контрольные вопросы 1. Какие средства применяются при контроле качества радиоэлектронных средств 2. Как осуществляется контроль исправности цифровых устройств 3. Поясните принцип действия установки тестового контроля 4. В чём заключаются оптический и рентгеновский методы контроля дефектов при изготовлении РЭС 5. Как осуществляется контроль электрических параметров изготовленного РЭС 6. На чём основан принцип действия автоматизированной системы технического зрения Лабораторная работа ИССЛЕДОВАНИЕ ТОЧНОСТИ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ИЗДЕЛИЙ РЭС СТАТИСТИЧЕСКИМ МЕТОДОМ Цель работы: выполнить анализ погрешностей партии изделий и в соответствии с полученными результатами внести изменения в технологический процесс их изготовления.

Краткие теоретические сведения Точность параметров радиоэлектронных средств определяется степенью соответствия действительного (измеренного) параметра заданному номинальному. Отклонения от номинальных значений параметров, указанных в нормативнотехнической документации, называются производственными погрешностями. Производственные погрешности зависят от ряда воздействующих дестабилизирующих факторов: неточности технологических операций при изготовлении РЭС, несоблюдения режимов работы оборудования, неточности инструментов и оснастки, комплектующих компонентов, влияния температуры, влажности и давления на процесс изготовления РЭС.

Для обеспечения допустимой производственной погрешности необходимо выполнить расчёт допусков на параметры полупроводниковых элементов, интегральных микросхем и электрорадиоэлементов, которые определяют заданные в нормативно-технической документации допуски на выходные параметры изделий РЭС [11]. Точность изготовления, а следовательно, и надёжность РЭС повышается при введении соответствующих электрических допусков на параметры элементов электрических и составляющих компонентов РЭС с учётом воздействия температуры окружающей среды, старения элементов, неточности технологических процессов, которые влияют на изменение выходных параметров и характеристик.

Выходные параметры имеют разброс из-за постоянных (систематических), закономерно изменяющихся и случайных погрешностей. Если погрешности партии деталей одинаковые, то они называются постоянными. При случайном характере появления погрешностей, они называются случайными. Если значения погрешностей изменяются по определённому закону при изготовлении партии изделий, то они называются закономерно изменяющимися.

При производстве РЭС для оценки точности наиболее часто используются три метода: расчётно-аналитический, наблюдение в цехах и статистический [1].

Метод наблюдения в цехах реализуется на основе полученных данных о точности изделий при их обработке и сборке. При этом учитывается вид материала изделий, используемое оборудование и инструменты. Статистический метод основан на положениях теории вероятности и математической статистики. Для оценки точности изготовления деталей РЭС используются следующие основные статистические методы: точечных и точностных диаграмм, кривых распределения.



Производственные погрешности исследуются в основном статистическими методами. При этом устанавливаются закономерности распределения этих погрешностей. Применение статистических характеристик (средних арифметических значений, средних квадратичных отклонений, кривых распределения отклонений) обусловлено тем, что производственные погрешности – это случайные величины, которые определяются на основе математической статистики и теории вероятности.

Предельное значение суммарной погрешности можно оценить с помощью метода кривых распределения. Используемый метод позволяет установить разброс погрешностей изготовления партии деталей и определить процент возможного брака. Для построения кривой распределения замеряется параметр А партии деталей в количестве N штук. Замеренный параметр А разбивается на равные интервалы и считается число параметров n в каждом интервале. Определяется частота повторений отклонений параметров в партии n/N. После этого строится гистограмма и полигон распределения погрешностей (рис. 6.1) [1]. Определяется характер кривой распределения, исходя из критериев подобия Колмогорова.

Вид кривой распределения зависит от вида погрешностей. Например, случайная погрешность подчиняется закону нормального распределения Гаусса.

Кривая распределения погрешностей является наглядной диаграммой технологического процесса, которая позволяет судить о его стабильности и фиксировать различные изменения в нём. Пользуясь кривой распределения, можно определить количество возможного брака и соответствие между заданными допусками и возможностями применяемого оборудования или технологии.

n/N Рис. 6.1. Гистограмма и полигон распределения погрешностей Вероятность соблюдения заданного допуска может быть определена графически. Полная площадь S1 кривой распределения, ограниченная от xmin до xmax, соответствует в некотором масштабе полному количеству изделий данной партии.

Площадь S2 кривой распределения, ограниченная полем допуска по ТУ, соответствует в том же масштабе количеству изделий, имеющих размеры в пределах заданного допуска. Разделив значение площади S2 на полную площадь S1, получим вероятность соблюдения заданного допуска. Для этого гистограмма и полигон распределения погрешности строится в масштабе, а затем производится определение площадей S1 и S2 [12].

Определить эту вероятность можно аналитически. Для этого площадь S2 определяем интегрированием уравнения кривой в соответствующих пределах.

Выходной параметр изделия должен быть выполнен с определенной точностью, т.е. выходной параметр не должен иметь большего отклонения от номинального значения, чем допустимое ±, где – абсолютное допустимое значение отклонения параметра.

Вероятность того, что выходной параметр x будет лежать в допустимых пределах при законе нормального распределения, может быть определена по формуле (x-mx )+ x P(- < x < +)= e dx, x где x и mx – среднее квадратичное отклонение и математическое ожидание случайной величины, соответственно.

x - mx Обозначим z =, тогда после преобразования получим x z P(- < x < +)= e dz = 2Ф(z), здесь Ф(z) – функция Лапласа, определяющая площадь под одной половиной кривой нормального распределения, ограниченную с одной стороны средним значением размера (ось симметрии кривой), а с другой – допустимым значением отклонения. Значения функции Лапласа определяются по табл. 6.1 для различных отношений /.

6.1. Значения функции Лапласа z Ф(z) z Ф(z) z Ф(z) 0,00 0,0000 1,30 0,4032 2,60 0,0,10 0,0398 1,40 0,4192 2,70 0,0,20 0,0793 1,50 0,4332 2,80 0,0,30 0,1179 1,60 0,4452 2,90 0,0,40 0,1554 1,70 0,4554 3,00 0,0,50 0,1915 1,80 0,4641 3,20 0,0,60 0,2257 1,90 0,4713 3,40 0,0,70 0,2580 2,00 0,4772 3,60 0,0,80 0,2881 2,10 0,4821 3,80 0,0,90 0,3159 2,20 0,4861 4,00 0,1,00 0,3413 2,30 0,4893 4,40 0,1,10 0,3643 2,40 0,4918 4,80 0,1,20 0,3849 2,50 0,4938 5,00 0,Методические указания и порядок выполнения работы 1. В соответствии с заданием для своего варианта из прил. Е к данной лабораторной работе определить параметр для измерения по эскизу детали, приведённому на рис. Е1. Измерить параметр партии изделий.

2. По результатам измерений определить диапазон xp рассеяния значений размеров изделий партии из N штук xp = xmax - xmin, где xmax – наибольшее значение размера; xmin – наименьшее значение размера.

3. Диапазон рассеяния размеров деталей разделить на m равных интервалов (m = 5 – 10). Рекомендуется границы первого интервала начинать со значения на 0,5 интервала меньше xmin, а заканчивать последний интервал значением, превышающим xmax также на 0,5 интервала.

4. Подсчитать количество изделий ni (частоту), входящих в каждый интервал.

5. Найти среднее арифметическое значение размеров деталей каждого интервала n xi i-xm ср =.

ni 6. Рассчитать среднее арифметическое значение размера параметра партии изделий, определяющее центр группирования его значений, n xm ni ср i-xср =.

N 7. Найти отклонение xmi значения размера xm ср интервала от среднего xср для всей партии изделий:

xmi = xm ср - xср.

8. Результаты расчётов внести в табл. 6.2.

6.2. Результаты расчётов Среднее значение Количество Относительная Границы размера деталей частота Отклонение, интервалов, детали в интервале (частность), xmi xpni в интервале, (частота), ni ni / N xm ср 30,348… 1 2 0,02 31,259 –5,…32,32,291… 2 6 0,06 33,349 –3,…34,34,233… 3 29 0,29 35,078 –1,…36,36,176… 4 45 0,45 37,284 0,…38,38,119… 5 14 0,14 39,066 2,…40,40,061… 6 3 0,03 40,336 3,…42,42,004… 7 1 0,01 43,096 6,…43,9. Рассчитать среднее квадратичное отклонение случайной величины m ni xmi i = =.





N 10. Рассчитать допустимое значение отклонения размера от номинального значения xном по заданному допуску ТУ (табл. Е1, прил. Е).

ТУ = xном.

11. Построить по данным табл. 6.2 гистограмму и полигон распределения погрешностей размеров параметров изделий ni = f(xmi). Для построения полигона необходимо из середины каждого интервала провести ординаты, высота которых пропорциональна частотам ni или частностям ni /N, и концы ординат соединить ломаной линией (рис. 6.2).

№ интервала Рис. 6.2. Экспериментальная гистограмма и полигон распределения погрешностей 12. Вычислить относительный коэффициент асимметрии, характеризующий собой отклонение среднего значения параметра oт номинального, и коэффициент рассеяния K, определяющий, в какой степени закон распределения погрешностей отличен от закона нормального распределения:

xср - xном = ; K =.

0,5 0,При несущественных расхождениях между xср и xном принимают = 0. Для закона нормального распределения = 3 и K = 1, для закона равнобедренного треугольника = 4,9 и K = 1,22, для закона равной вероятности = 3,4 и K = 1,73.

13. Определить аналитически вероятность PA, соблюдения заданного допуска. Для этого рассчитать z = 0,5 / и определить значение функции Ф(z) по табл. 6.1. Вероятность соблюдения допуска равна 2Ф(z) 100 %.

~ 14. Определить графически вероятность PA соблюдения заданного допуска. Для этого замерить площадь S2 под кривой фактического распределения (п. 11) в пределах допустимого отклонения ± /2 и общую площадь S1 под той же кривой. Рассчитать отношение S2 /S1, которое определит вероятность соблюдения заданного допуска.

15. Гистограмму и полигон распределения погрешностей построить с использованием персонального компьютера с помощью программы Stat.exe.

Рис. 6.3. Главное окно программы Работа с программой.

При запуске программы Stat.exe на экране компьютера появляется главное окно программы (рис. 6.3).

Чтобы приступить к расчёту, необходимо нажать кнопку «Задать N», после этого появится окно, в которое необходимо ввести число N, например, вводим 10 (рис. 6.4).

Рис. 6.4. Ввод объёма партии N Затем следует закрыть это окно, а в главной таблице программы появятся два поля. В первом – показаны параметры для ввода, а во второе необходимо внести все исходные данные для расчёта (рис.6.5).

Рис. 6.5. Таблица для ввода данных Заполнить таблицу и нажать кнопку «Расчёт». При этом программа выполнит все пункты лабораторной работы. На (рис. 6.6) показаны построенные с помощью программы гистограмма и полигон распределения погрешностей. Результаты работы программы можно сохранить: таблицу в формате, пригодном для экспорта в Exсel (рис. 6.7), а гистограмму и полигон можно распечатать или сохранить в виде картинки (рис. 6.8).

Справа от гистограммы и полигона в окне программы располагаются параметры партии, которые необходимо рассчитать (рис. 6.8).

Рис. 6.6. Гистограмма и полигон распределения погрешностей Рис. 6.7.

Окно для сохранения таблицы при экспорте в Excel Для импорта файла, полученного этой программой в Excel, необходимо выполнить следующее:

1) запустить Excel;

2) выполнить открытие файла, предварительно указав тип файла – «Текстовые файлы (*.prn;*.txt;*.csv)»;

3) в появившемся Мастере импорта указать формат данных «с разделителями» и выбрать формат файла «Windows ANSI»;

4) нажать «далее»;

5) поставить галочку, что символом-разделителем является точка с запятой;

6) нажать «Далее», а затем «Готово».

После указанных действий полученную таблицу можно поместить в отчёт.

Содержание отчёта 1. Название и цель лабораторной работы.

2. Эскиз детали партии изделий.

3. Результаты измерений параметров деталей партии изделий (в виде таблицы).

4. Результаты расчётов измерений (в виде таблицы).

5. Построенные по результатам измерений гистограмма и полигон распределения погрешностей.

6. Результаты определения вероятности соблюдения заданного допуска графическим и аналитическим методами.

7. Вывод о полученных результатах при измерении параметров партии изделий по соблюдению заданного допуска и технологическом процессе изготовления деталей, используемых в лабораторной работе.

Рис. 6.8.

Окно программы для сохранения ( и реализации других функций ) гистограммы и полигона Контрольные вопросы 1. Чем определяется точность параметров радиоэлектронных средств 2. Что называется производственной погрешностью 3. От каких дестабилизирующих факторов зависят производственные погрешности 4. Как выполняется расчёт допусков на параметры компонентов РЭС 5. Какие виды производственных погрешностей Вы знаете 6. Какими методами исследуются производственные погрешности 7. В чём заключается метод кривых распределения при оценке производственных погрешностей ЗАКЛЮЧЕНИЕ В учебном пособии рассмотрены основные теоретические положения и даны рекомендации по проведению лабораторного практикума.

Приведена методика расчёта и анализа технологичности изделий РЭС и программа реализации этой методики на персональном компьютере.

Рассмотрены этапы технологического процесса сборки и монтажа электронных блоков РЭС и отдельные технологические операции.

Приведён пример сборки узла РЭС с базовой деталью, образец заполнения маршрутных карт техпроцесса сборки.

Pages:     | 1 |   ...   | 3 | 4 || 6 |










© 2011 www.dissers.ru - «Бесплатная электронная библиотека»

Материалы этого сайта размещены для ознакомления, все права принадлежат их авторам.
Если Вы не согласны с тем, что Ваш материал размещён на этом сайте, пожалуйста, напишите нам, мы в течении 1-2 рабочих дней удалим его.