WWW.DISSERS.RU

БЕСПЛАТНАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ БИБЛИОТЕКА

   Добро пожаловать!


Pages:     | 1 |   ...   | 5 | 6 ||

- спектроскопические методы ( эмиссионный спектральный анализ, инфракрасная спектроскопия, микрорентгеноспектральный анализ, рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, оже-электронная спектроскопия, вторично-ионная масс-спектрометрия) - для анализа элементного состава материалов, в том числе тонких слоев и приповерхностных областей;

- дифракционные методы (рентгеноструктурный анализ, электронография, нейтронография) - для анализа структуры и фазового состава материала;

- ядерно-физические (активационный анализ, ядерная спектроскопия, спектрометрия обратного рассеяния ) - для анализа элементного состава, в том числе неразрушающего анализа распределения легких элементов по глубине.

Важное место в технологии контроля качества занимают методы оценки и прогнозирования (группового и индивидуального) надежности конденсаторов. К настоящему времени для основных типов конденсаторов разработаны модели прогнозирования срока службы (интенсивности отказов), методы группового прогнозирования надежности по результатам нормальных испытаний, по результатам форсированных испытаний, а также индивидуальное прогнозирование надежности с использованием методов неразрушающего контроля качества.

Для решения этих задач необходимы специальные исследования по изучению причин и механизмов отказов различных типов конденсаторов, выявлению информативных параметров для диагностики качества и надежности конденсаторов.

ЛИТЕРАТУРА 1. Таиров Ю.М., Цветков В.Я. Технология полупроводниковых и диэлектрических материалов.- М.: Высш.школа, 1990. - 423 с.

2. Окадзаки К. Технология керамических диэлектриков.-М.:

Энергия, 1976.- 336 с.

3. Полонский Ю.А., Ротенберг П.А., Ханин С.Д. Неорганические диэлектрики для конденсаторостроения: Учеб. пособие.- СПб.:

СПбГТУ, 1993.- 80 с.

4. Петропавловский В.С., Хухлович З.В., Трухина И.О. Состояние и проблемы развития конденсаторов с оксидным диэлектриком за рубежом. Обзоры по электронной технике. Сер.5. Радиодетали и радиокомпоненты, 1988, Вып.1 (1340).:- М.: ЦНИИ "Электроника".- 82 с.

5. Радиокерамика / Богородицкий Н.П., Кальменс Н.В., Нейман М.И. и др. М.-Л.: Госэнергоиздат, 1963.- 555 с.

6. Справочник по электрическим конденсаторам. Общие сведения, выбор и применение / В.П.Берзан, Б.Ю.Геликман, М.Н.Гураевский и др. - Кишинев: Штиинца, 1982.- 309 с.

7. Справочник по электрическим конденсаторам / Под ред.

И.И.Четверткова, В.Ф.Смирнова - М.: Радио и связь,1983.-576 с.

8. Закгейм Л.Н. Электролитические конденсаторы. М.-Л.: Госэнергоиздат, 1963.- 274 с.

9. Ханин С.Д. Проблемы электрофизики металлооксидных конденсаторных диэлектриков.. Обзоры по электронной технике. Сер.5.

Радиодетали и радиокомпоненты, 1990, Вып.1 (1524).- М7: ЦНИИ "Электроника" - 57 с.

10. Вопросы качества радиодеталей / Б.Ю.Геликман, Г.А.Горячева, Л.Л.Кристалинский, В.В.Стальбовский.- М.: Сов.радио, 1980.- 328 с.

11. Воронцов В.Н., Геликман Б.Ю., Кристалинский Л.Л. Прогнозирование надежности радиодеталей (резисторов и конденсаторов).Л.: Изд. ЛДНТП6 1982.- 28 с.

12. Основные причины и механизмы отказов конденсаторов / Б.Ю.Геликман, Л.Л.Кристалинский, Л.А.Столов, С.Д.Ханин: Обзоры по электронной технике. Сер.8 Управление качеством, стандартизация, метрология, испытания. - М.: Изд. ЦНИИ "Электроника", 1989. - вып.3 (1445).- 64 с.

ОГЛАВЛЕНИЕ ВВЕДЕНИЕ _1. ОБЩИЕ СВЕДЕНИЯ. ОСНОВНЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ И ТРЕБОВАНИЯ, ПРЕДЪЯВЛЯЕМЫЕ К КОНДЕНСАТОРНЫМ ДИЭЛЕКТРИКАМ _2. КОНДЕНСАТОРЫ С НЕОРГАНИЧЕСКИМ ДИЭЛЕКТРИКОМ 3. КОНДЕНСАТОРЫ С ОКСИДНЫМ ДИЭЛЕКТРИКОМ4. КОНДЕНСАТОРЫ С ОРГАНИЧЕСКИМ ДИЭЛЕКТРИКОМ _5. ИОНИСТОРЫ 6 КОНДЕНСАТОРЫ ДЛЯ АВТОМАТИЗИРОВАННОГО МОНТАЖА НА ПОВЕРХНОСТЬ (ЧИП-КОНДЕНСАТОРЫ) _7. ТЕХНОЛОГИЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПАССИВНЫХ КОМПОНЕНТОВЛИТЕРАТУРА

Pages:     | 1 |   ...   | 5 | 6 ||










© 2011 www.dissers.ru - «Бесплатная электронная библиотека»

Материалы этого сайта размещены для ознакомления, все права принадлежат их авторам.
Если Вы не согласны с тем, что Ваш материал размещён на этом сайте, пожалуйста, напишите нам, мы в течении 1-2 рабочих дней удалим его.